Home На главную


Индекс УДК Наименование раздела
620.183.48 авторадиографическими методами
620.183 Выявление структуры
620.183.4 Выявление структуры методами отпечатков
620.183.2 Выявление структуры травлением
620.183.1 Выявление структуры (травящим) рельефным полированием
620.181.424.08 Двойной гальванометр
620.183.255 для макроскопических исследований (макроанализа). Методы скоростного и глубокого травления
620.183.256 для микроскопических исследований (микроанализа)
620.182.6 Защита от повреждений и хранение шлифов
620.184.6 изломов. Фрактография
620.181 Изучение фазовых изменений термическими и другими физическими методами
620.186.1 Исследование фаз
620.186.8 Исследования зерен и границ зерен
620.186.4 Исследования линий сдвига, двойников, трещин, разрывов и прочих дефектов, обусловливаемых пластической деформацией
620.181.4 Исследования при охлаждении и нагревании. Термический анализ
620.181.5 Исследования при постоянных температурах. Изотермические превращения
620.186.5 Исследования рекристаллизации, роста зерен и других явлений, связанных с термообработкой
620.18 Исследования структуры материалов
620.181.413 кривой Осмонда (кривая "обратной скорости")
620.181.414 кривой скорости
620.184.2 Ликвации (сегрегации)
620.186.2 Ликвации (сегрегации)
620.183.46 магнитными методами, например с применением магнитного порошка для выявления фигур Биттера
620.184 Макроскопические исследования. Макроанализ
620.186.12 металлических
620.18 Металлография и соответствующие исследования неметаллических материалов
620.181.42 Методы записи дифференциальных диаграмм
620.181.41 Методы построения кривой температура-время (кривой нагревания и охлаждения)
620.183.44 механическими методами
620.183.6 Микрорадиография
620.186 Микроскопические исследования. Микроанализ. Изучение структуры
620.184.3 направления зерен
620.186.14 неметаллических
620.181.412 обычных кривых охлаждения
620.186.82 Определение размеров (величины) зерен
620.187.22 отражательного
620.184.4 первичной структуры, например структуры литого металла
620.181.424 по Саладен-Ле-Шателье
620.181.428.4 по Шевенару
620.182.25 Полирование поверхностей. Полировочные материалы
620.187.3 Получение изображений объекта при помощи просвечивающего электронного микроскопа
620.187.5 Получение изображений с помощью отпечатков. Техника приготовления отпечатков
620.182.22 Получение плоских поверхностей путем распиливания, опиловки, шлифования
620.187.2 Получение прямых изображений при помощи отражательного или эмиссионного электронного микроскопа
620.182 Приготовление металлографических шлифов. Макроскопические и микроскопические методы
620.181.428 Прочие методы
620.182.27 Разделение фаз путем растворения основных составляющих
620.181.428.5 с помощью магнитометра
620.183.256.2 с целью выявления границ зерен
620.183.256.4 с целью выявления поверхностей зерен и получения фазового контраста
620.183.24 термическим (окисным) травлением
620.186.84 Установление границ зерен
620.183.25 химическим травлением
620.183.42 химическими методами, например отпечатками на серу по Бауману
620.182.2 Шлифование и полирование образцов. Приготовление шлифов
620.182.23 Шлифование поверхностей
620.183.27 электролитическим травлением
620.182.253 Электролитическое полирование
620.187 Электронно-микроскопические методы исследования
620.187.24 эмиссионного

АПУ (Алфавитно-предметный указатель)
[Вернуться]